La présentation sera faite en français.
Résumé : L’origine de l’accroissement « anormal » de la temperature critique dans les couches minces d’aluminium lorsque leur épaisseur tend vers zéro, reste largement débattue.Nos mesures de spectroscopie par contact ponctuel suggèrent des changements significatifs de la fonction d’Eliashberg en fonction de l’épaisseur de la couche mais ne permettent néanmoins pas d’expliquer directement l’accroissement de leur température critique. Ces mesures indiquent également une forte distribution de la temperature critique locale (probablement liée à une distribution de la taille des grains) avec la présence de supraconductivité locale, jusqu’à des températures dépassant d’un ordre de grandeur la Tc déterminée par transport !