Description

Ces instruments sont ouverts aux personnels après une formation initiale. Ils permettent des caractérisations rapides mais de qualité concernant la topographie des échantillons, leurs propriétés physiques (électriques, ferroélectriques), ainsi que les procédés de nanofabrication (lithographie, indentation).

Dans le cas d’une ou quelques observations très ponctuelles un ’service’ d’observation est proposé. Au-delà les utilisateurs seront formés par une des personnes responsables des AFM.

Contacts :

Simon Le Denmat

Site de réservations des instruments AFM / STM