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Automatisation et caractérisation
Le pôle Automatisation et Caractérisation conçoit et automatise des dispositifs de mesures originaux
Collaborating Research Group at ESRF/ILL facilities
Exploitation et développement des instruments des CRG dédiés à la science des matériaux et hébergés dans les installations européennes ILL et ESRF
Cristaux Massifs
De la croissance cristalline à haute température (czochralski, bridgman, fusion de zone, flux) à la mise en forme des monocristaux
Croissance Cristalline et MicroAnalyse
Croissance Cristalline et MicroAnalyse pour la physique de la matière condensée
Cryogénie
Du bobinage au millikelvin : conception, réalisation et mise au point de dispositifs cryogéniques originaux à l’Institut Néel
Electronique
Concevoir et réaliser cette instrumentation électronique très spécifique et indispensable aux expérimentateurs
Epitaxie et couches minces
Développement et optimisation de dispositifs expérimentaux originaux fonctionnant sous vide et ultra-vide ainsi que de procédés d’élaboration de nano-matériaux innovants.
Ingénierie Expérimentale
Prototypage, développement d’appareillages spécifiques et gestion d’une plateforme de magnétométrie en appui à la recherche
Nanofabrication
Une centrale de micro-nanofabrication dédiée à la réalisation d’objets pour la recherche fondamentale, essentiellement par des techniques de Lithographie
Optique & Microscopies
Analyser des échantillons par l’utilisation d’outils multi-techniques comme les microscopies électroniques, les techniques en champ proche, les spectroscopies et les outils laser / optique
Service Etudes et Réalisation d'Appareillages Scientifiques
Structure à vocation technologique au service de l’expérimentation scientifique dans les domaines variés de la Physique
Thermique Élaboration Matériaux et Applications
Matériaux et procédés fonctionnels à des fins d'études fondamentales, d'applications énergétiques et de recyclage
X'Press
Instrumentation pour la synthèse de matériaux, notamment sous hautes pressions et hautes températures, et leur caractérisation par diffraction des rayons X