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Ces dispositifs, qu’ils soient commerciaux ou développés spécifiquement, sont :
• diffractomètres sur poudres (résolution standard et haute résolution),
• diffractomètre sur monocristaux, analyses de texture,
• diffractomètres en incidence rasante et réflectivité, très haute résolution, Laue etc.
Ces instruments sont gérés par le pôle X’Press, apportant une expertise de mesure et d’analyse aux utilisateurs.
Voir aussi le pôle CRG pour les expériences sur grands instruments, ILL et ESRF.