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Seminar room – Building A
Title: Comment les défauts électriquement actifs agissent sur les performances des composants électroniques ?
Abstract:
Durant les étapes de fabrication d’un composant électronique, des défauts de la structure du matériau peuvent apparaitre, soit pendant la croissance des couches cristallines, soit par l’introduction involontaire d’éléments chimiques contaminants, soit à la suite d’étapes technologiques telles que l’implantation, la gravure ou encore un recuit. Dès lors que ces défauts sont électriquement actifs, ils sont susceptibles de perturber le fonctionnement optimal du composant, par exemple en créant un retard à la commutation entre les états bloqué et passant d’un transistor, en diminuant le courant à l’état passant de diodes ou de transistors, en réduisant l’efficacité d’émission de diodes électroluminescentes ou en abaissant la tenue en tension des composants de puissance. Ces défauts peuvent également conduire à un blocage du niveau de Fermi dans la bande interdite du semi-conducteur, qui peut selon les cas être recherché ou au contraire être pénalisant. Au travers de quelques exemples d’étude, l’exposé démontrera le lien entre les défauts électriquement actifs et les performances de composants.
