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Séminaire PLUM

Jeudi 12 septembre 2019 à 16h
Salle Erwin Bertaut, F418

Orateur : Victor Bourdeau (Institut Néel, MRS)
"Quantitative fields mapping by off-axis electron holography and pixelated STEM"

Abstract

Au cours de cet exposé, je montrerai comment mesurer de manière quantitative des champs électrique, magnétique et de déformation élastique d’un cristal, par des techniques issues de la microscopie électronique en transmission (à balayage) ((S)TEM) que sont l’holographie électronique hors axe optique et le STEM pixellisé. Nous verrons que certaines avancées récentes dans ce domaine permettent de mesurer ces champs avec une résolution spatiale (sub-)nanométrique et une grande sensibilité. Les performances et différences entre ces deux techniques seront discutées et illustrées à travers différents exemples, afin de comprendre dans quels cas une technique est plus appropriée que l’autre.

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