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Séminaire NEEL

Mardi 23 octobre à 9h30,
Salle des séminaires, Bât. A

Orateur : Roman Kramer
"Institut Néel"

Abstract

Un certain nombre de phénomènes en matière condensée conduisent à une distribution inhomogène d’une grandeur physique. Par exemple, les réseaux de vortex dans les supraconducteurs ou la densité d’états d’un semi-conducteur. Une visualisation directe des états inhomogènes est souvent le seul moyen d’en révéler leur nature. La microscopie à sonde locale permet de visualiser une grandeur physique en balayant la surface avec un très petit détecteur ou une sonde.

Dans ce séminaire je vais présenter notre nouveau microscope à balayage qui utilise un transistor à un électron aux basses températures (<300 mK) en forts champs magnétiques (0-18 T). La sonde, un transistor à un électron permet une détection ultrasensible des charges et champs électriques à une échelle nanométrique. Je vais explorer les capacités de ce nouveau microscope à l’aide de quelques cas simples. Ce microscope à balayage permettra d’étudier la plupart des systèmes électroniques bidimensionnels, par exemple, les canaux de bord dans le régime de l’effet Hall quantique, les états de surface d’isolant topologiques tridimensionnels ou les états électroniques inhomogènes proches d’une transition métal-isolant.

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