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Séminaire PLUM

Jeudi 9 juin à 16h00,
Salle Erwin Bertaut, F418

Orateur : Jean-Louis Hodeau
Quelques étapes historiques de la Cristallographie, suivies par "OÙ et COMMENT trouver les infos structurales dans votre échantillon !"

Abstract

Dans ce séminaire, après une brève approche historique pour illustrer l’importance de la DISCUSSION scientifique sur l’avancée de la cristallographie, je ferais une revue de qqs. avancées expérimentales qui permettent les nouveaux DEFIS actuels. Ensuite je donnerais le OU ? et le COMMENT ? de différentes informations structurales que l’on peut extraire d’un cliché de diffraction/diffusion de rayons X.

Que ce soit la position des pics de diffraction qui renseigne sur la maille et la symétrie, les intensités qui renseignent sur les atomes constitutifs de la structure et leurs positions ou la diffusion qui nous permet d’extraire les ordres locaux dans un système désordonné, l’information est diverse. Je donnerai un aperçu de qqs. méthodes d’analyses (Rietveld, Diff Anomale, PDF), des analyses de la microstructure et des désordres. Je terminerai avec les apports de la combinaison des outils et des méthodes : diffraction, diffusion, microscopie, spectroscopie résonante, tomographie qui nous permettent de relever les défis que nous posent l’hétérogénéité des matériaux "réels".

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