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Profils structural et magnétique

En couplant la spectroscopie d’absorption des rayons x à un dispositif d’incidence rasante résolue en angle, nous mettons à profit la variation de longueur de pénétration des rayons X dans la matière autour de l’angle critique pour obtenir sur l’ordre structural et magnétique local une information résolue en profondeur. Cette information est particulièrement importante en nanosciences ou des interfaces qui induisent ou perturbent les propriétés des matériaux. Ainsi, dans un système de films CoPt obtenus par dépôts alternés nous avons observé que l’ordre chimique, responsable de l’anisotropie perpendiculaire est partiellement perdu a proximité du substrat, pour des films d’épaisseur supérieure à 50nm. La présence d’une strate désordonnée, confirmée par diffusion X résonante, explique l’inhabituelle dépendance en épaisseur des propriétés magnétiques du système étudié.

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